Tillförlitlighet och Renhet 2016

Stockholmsmässan och Svensk Elektronik arrangerar en specialkonferens baserad på undersökningar av kretskort som skapats i S.E.E.s Live Production område.

Om Tillförlitlighet och Renhet 2016
400 kretskort av två olika artiklar tillverkas under S.E.E.  Hälften av kretskorten är av IPC-B-52 typ och den andra hälften är ett traditionellt 4-lagers kort med en stor BGA och flera QFN. Delar av dessa 400 kretskort undersöks direkt på mässan och skickas sen vidare för vetenskapliga undersökningar hos internationella laboratorier som NPL (National Physical Laboratoties) i England, Hytek i Danmark, Zestron och Fraunhofer i Tyskland, TopTester i Finland samt svenska Swerea.

Följande områden kommer att belysas:
–    Lödbarhet på olika mönsterkorts ytbehandlingar.
–    Tillförlitlighet på lödfogar.
–    Renhet efter omsmältning och selektivlödning samt efter tvätt.
–    Värdering och bedömning av lackresultat.
–    Tryckresultat vid användning av olika typ av stenciler.
–    Röntgen och AOI inspektion samt processövervakning.

Lars Wallin och Bob Willis leder konferensen Tillförlitlighet och Renhet där resultaten av undersökningarna redovisas. På scen möter vi även ledande experter från de undersökande laboratorierna.